椭圆的简单几何性质学法建议 瓷砖保护膜厚度测量方法?

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椭圆的简单几何性质学法建议

瓷砖保护膜厚度测量方法?

瓷砖保护膜厚度测量方法?

按照测量的方式分可以分为两类:直接测量和间接测量。直接测量指应用测量仪器,通过接触(或光接触)直接感应出薄膜的厚度。
  1、常见的直接法测量有:螺旋测微法、精密轮廓扫描法(台阶法)、扫描电子显微法(SEM);间接测量指根据一定对应的物理关系,将相关的物理量经过计算转化为薄膜的厚度,从而达到测量薄膜厚度的目的。
  2、常见的间接法测量有:称量法、电容法、电阻法、等厚干涉法、变角干涉法、椭圆偏振法。按照测量的原理可分为三类:称量法、电学法、光学法。
  3、常见的称量法有:天平法、石英法、原子数测定法;常见的电学法有:电阻法、电容法、涡流法;
  4、常见的光学方法有:等厚干涉法、变角干涉法、光吸收法、椭圆偏振法。